Un symposium conjoint visant à promouvoir l'interaction entre la Société microscopique du Canada (MSC) et la Société japonaise de microscopie (JSM) aura lieu à la réunion d'Osaka du JSM du 25 au 27 mai 2020. Veuillez envisager de participer au symposium.
Le thème commun limitant la microscopie électronique est les dommages causés par les radiations. Par conséquent, l'objectif du symposium est de trouver les moyens de surmonter les limitations des dommages aux électrons en microscopie électronique conventionnelle et environnementale, en spectroscopie, en interférométrie et en préparant des échantillons affectés par les dommages causés par les radiations. Les contributions sur les applications de la microscopie aux échantillons sensibles aux rayonnements et les méthodes de traitement des données applicables à ces échantillons sont également les bienvenues.
Les étudiants et les stagiaires postdoctoraux sont encouragés à postuler pour le prix CFDM, décrit ci-dessous.
La soumission des résumés sera ouverte du 10 janvier 2020 au 13 février 2020.
Si vous êtes intéressé à participer, veuillez nous en informer par courriel à ms.sm.canada+JSM@gmail.com avant le 27 janvier 2020.
Les modèles de résumés disponibles ici. Des informations complémentaires peuvent être trouvées ici ou par email à: Marek Malac.
Shigeo Mori, Ken Harada, Marek Malac et Misa Hayashida, organisateurs du symposium.
